Сканирующий конфокальный рамановский спектрометр с опцией СЗМ

Follow NanoScanTech on Twitter

ARS3000

Главными достоинствами системы являются:

  1. Компактные размеры
  2. Полная автоматизация системы
  3. Оригинальная конструкция спектрометра
  4. Высокая светосила прибора с минимальными оптическими потерями.
  5. Конфокальная схема выполнена по оригинальной схеме, обеспечивает компактные размеры и минимальные дрейфы оптических элементов.
  6. Встроенный оптический микроскоп обеспечивают удобный поиск места для измерений.
  7. В конструкции применены прецизионные механические комплектующие и оптика.
  8. Может быть использован как в условиях промышленных лабораторий, так и в исследовательских университетах.
  9. Стоимость базовой конфигурации 13 500 000 RUR

 

Основные составляющие системы :

A. Автоматизированное основание со встроенным плоским сканером для образца.

B. Конфокальный модуль содержащий оптическую схему формирования пучка возбуждения и канал детектирования вторичного (рамановского излучения).

C. Высоко чувствительная ПЗС матрица с глубоким охлаждением для записи спектров вторичного излучения.

D. Тринокуляр оптического микроскопа с возможностью наблюдения образца как в окуляры, так и видеокамеру.

E. Твердотельный лазер возбуждения, опционально 355 нм, 473 нм, 532 нм, 785нм. Для подключения внешних лазеров с другими линиями используется одномодовое транспортное оптоволокно.

F. Монохроматор

G. Атомно Силовая Головка для записи сигналов топографии образца.

H. ФЭУ одноканальный детектор.

I. HeNe лазер как базовый для спектроскопии комбинационного рассеяния.

Оптическая Схема


Оптическая чувствительность:

Оптическое картирование поверхности.

Изображение поверхности в режиме конфокального

лазерного микроскопа. Образец Si/SiO2 структура.

Изображение поверхности в режиме конфокального

рамановского микроскопа. Образец Si/SiO2 структура.

Картирование в режиме атомно-силового микроскопа:

Спецификация базовой конфигурации:

XY разрешение в АСМ < 1 нм
Z разрешение в АСМ <0.1 нм
Диапазон сканирования 100x100x15 мкм
Спектральный диапазон изм. вторичного спектра 100..5000 см-1
Спектральное разрешение <1 см-1
Свето пропускание >80%
Лазеры возбуждения 532 нм
Базовый детектор ПЗС матрица Andor iVac 324 FI
Размер, пиксели 1560x200 пикселей
Размер пиксела 16 mkm
Охлаждение до -60o
Шум чтения 5.8 e
Темновой ток 0.0028 e/пикс/сек
Мах скорость 269 спектров/сек
Базовый монохроматор  Andor Shamrock 500 i
Фокальное расстояние 500 мм
Дифракционные решетки
150 штр/мм ДВ блеска = 500 нм,  Разрешение = 0.52 нм
600 штр/мм ДВ блеска = 500 нм,  Разрешение = 0.13 нм
1800 штр/мм ДВ блеска = 380 нм,  Разрешение = 0.04 нм
Входная диафрагма (щель) постоянная 100 мкм
Базовый Лазер Cobolt
Тип NdYg
Длинная волны 532.8 нм
Мощность 25 мВт
Ширина линии < 1 pm
Базовый Оптический Микроскоп Olympus BX51
Cистема освещения образца диодная
Мощность диода 100Вт
Тип освещения на отражение Kohler
Окуляры Широкопольные окуляры с 10х/24
mm, скорректированные на
бесконечность
Межзрачковое расстояние 50-70 mm
Тринокуляр с Селектором оптического пути делительная призма 0:100, 50:50
Система фокусировки Автоматизированная
Точность системы фокусировки 100 нм
Камера для видео наблюдения Moticam 2X
Диагональ                                                            
тип 1/2” CMOS
Разрешение матрицы камеры, px 2500x1800
Глубина оцифровки 12 бит
Размер пикселя 2.5 мкм
Интерфейс WiFi
Блок микрообъективов
Тип турель на 4 объектива
Объектив 1
SLMPLN 50X
Увеличение 50x
N.A. 0.35
WD 18 мм
Объектив 2
MPLFLN 100X
Увеличение 100x
N.A. 0.9
WD 1 мм
Позиционирование образца
Тип Автоматизированная XYZ
Диапазон 10x10x10мм
Точность 1мкм
Позицонирование СЗМ головки
Тип Автоматизированная XY
Диапазон 10x10мм
Точность 1мкм
Система сканирования образцом для получения оптических, СЗМ изображений
Тип Плоский XYZ stage
Диапазон прецизионного сканирования 80μmx80μmx15 μm
Пространственное разрешение < 0.01нм
Точность перемещения < 1нм
Остаточная нелинейность <1%
Датчики перемещения
Тип датчиков Оптические интерференционные, абсолютная линейность, точность менее 1 нм, скорость опроса 300 кНz, встроенная функция авто калибровки.
Модуль Сканирующего зондового микроскопа, СЗМ головка
Световой детектор отклонения Четырех секционный диод
Юстировка лазера на балку кантилевера 2 микровинта с шагом 0.125 мм
Юстировка диода 2 микровинта с шагом 0.125 мм
Держатель кантилеверов Съемный, исполнение по типу SIM карта
Встроенный пьезо для раскачки -10..+10В, 0..10МГц
Сканирование зондом опционально

По вопросам приобретения оборудования и согласования спецификаций обращайтесь по адресу электронной почты info@nanoscantech.ru, либо по телефону: Тел:  +7 (495) 642 40 68